Konferenzprogramm

Dynamische Analyse für Embedded Systeme - so sollte es sein

Embedded Systems sind schon speziell: der Speicher ist immer zu knapp, die CPU zu langsam, I/O-Schnittstellen oft belegt. Wie soll man da gescheite Integrationstests machen, Code Coverage messen, Tests priorisieren und die Performance optimieren? Mit Software-Instrumentierung, die die Probleme nur verschärft? Nein - der Gold Standard ist die Verwendung von embedded Trace. Fast immer vorhanden, fast nie genutzt.

Im Vortrag wird gezeigt, wie diese Methode funktioniert und worauf man beim HW- und SW-Design achten muss, um den Prozessor bei seiner Arbeit beobachten zu können, ohne dass dieser es bemerkt.

Zielpublikum: Test*innen, Entwickler*innen, Testmanager*innen, Projektleiter*innen
Voraussetzungen: Testen von embedded systems, embedded Linux, code coverage, Test Impact Analyse
Schwierigkeitsgrad: Advanced

Extended Abstract:
Integrationstests für Embedded Systems stellen eine anspruchsvolle Aufgabe dar, da sie auf Ressourcen verzichten müssen, die in anderen Systemen selbstverständlich sind. Eingeschränkter Speicher, ausgelastete CPUs und belegt I/O-Schnittstellen lassen wenig Spielraum für aufwändige Beobachtungsmethoden. Wie lassen sich unter diesen Bedingungen Testvollständigkeit (Code Coverage) messen, Tests priorisieren oder die Worst-Case Execution Time (WCET) abschätzen, ohne das System zu stören?

Viele Ansätze greifen auf Software-Instrumentierung zurück, die jedoch bei Embedded Systems oft kontraproduktiv ist: Sie beansprucht wertvolle Ressourcen und beeinflusst die Systemausführung. Für Integrationstests ist ein nicht-intrusiver Ansatz unabdingbar. Hier kommt embedded Trace ins Spiel - eine Technik, die in vielen Prozessoren bereits vorhanden, aber viel zu selten genutzt wird.

Der Vortrag geht von typischen Applikationen wie der Messung der Testvollständigkeit, der Testfallpriorisierung und der WCET-Abschätzung aus, um die Herausforderungen der Systembeobachtung bei Integrationstests aufzuzeigen. Verschiedene Methoden werden miteinander verglichen, wobei die Vorteile einer nicht-intrusiven Beobachtung durch embedded Trace herausgestellt werden.
Anhand eines konkreten Beispiels wird veranschaulicht, wie embedded Trace funktioniert und wie es effektiv eingesetzt werden kann.

Teilnehmer erfahren zudem, welche Aspekte sie beim Hardware- und Software-Design berücksichtigen müssen, um das Potenzial dieser Technik nutzen zu können. Ziel des Vortrags ist es, die Teilnehmer mit einer leistungsfähigen, ressourcenschonenden Methode vertraut zu machen, die Integrationstests in Embedded Systems auf ein neues Niveau hebt.

Alexander ist seit jeher in der Embedded Welt zu Hause: während seines Elektrotechnikstudiums an der TU München, seiner Promotion an der TU Dresden, als Gründer der Accemic Technologies GmbH, als SW/HW/FPGA Entwickler und als Autor.

Richard, Diplom-Informatiker (Univ.), hat mehr als 30 Jahre Erfahrung in unterschiedlichen Rollen in Software-Entwicklungsprojekten gesammelt. Er ist als Sales Manager für die Accemic Technologies GmbH tätig.

Alexander Weiss, Richard Baudrexl
12:05 - 12:40
Vortrag: Mi 2.3
Themen: Embedded

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